Diferències entre Microscopi Electrònic MEB i MET
Clasificado en Plástica y Educación Artística
Escrito el en 
catalán con un tamaño de 3,07 KB
Comparativa entre Microscopi Electrònic de Rastreig (MEB) i de Transmissió (MET)
| CARACTERÍSTICA | MEB | MET |
|---|---|---|
| En anglès | Scanning Electron Microscope (SEM) | Transmission Electron Microscope (TEM) |
| Incidència del feix i origen de la imatge | Un feix d’e- (primaris) escombra la superfície de la mostra i interacciona amb ella originant electrons secundaris, que són recollits per formar la imatge. | Un feix d’e- estable (e- primaris) travessa la mostra, desviant-se o no, i és recollit posteriorment per formar la imatge. |
| Tipus d'imatge | Topogràfica (3D) Comparable a la lupa binocular. | Imatge per transmissió (2D) Comparable a un microscopi òptic (MO). |
| Profunditat de camp | De diversos mm (permet enfocar simultàniament diferents plans). | 0, un únic pla. |
| Voltatge | 1 - 40 kV | 40 - 100 kV |
| Límit de resolució | 0,2 - 1 nm | 3,5 - 10 nm |
| Augments | x10 – x100.000 | x1.000 – x1.000.000 |
| Conductivitat i contrast | S'utilitzen substàncies per recobrir la mostra (pel·lícules fines d'or o carboni) per estimular la producció d'electrons secundaris. | S'utilitzen sals de metalls pesats com a contrast:
|
| Tècniques de preparació |
|
|