Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Principios, Componentes y Funcionamiento
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Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
Preparación de la Muestra
La muestra a estudiar deberá tener un espesor lo suficientemente amplio para que el rayo incidente no tenga efectos de transmitancia. En esta metodología, lo que se busca es una difracción, es por ello que la muestra no debe ser tan delgada para que los electrones puedan difractar sin problema alguno y sus señales puedan ser recopiladas por el sistema de detección.
Inicialmente, el haz de electrones es emitido desde un filamento (más adelante se hablará de él), el cual es inducido por un nivel alto de energía hasta llegar a un punto en que la muestra difractará tal haz de electrones con un cierto ángulo de salida.
Señales Detectadas en SEM
Estas señales se componen... Continuar leyendo "Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Principios, Componentes y Funcionamiento" »
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